Application of tracing tools for analysis of microcontroller failures arising under the 14 MeV neutrons exposure

Мұқаба

Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

The trace support tools capabilities for a microcontroller (МС) with a Cortex-M3 core are analyzed to investigation of failures arising under the 14 MeV neutrons exposure. It has been shown that in most cases, MC hang is caused by the microcontroller going into a handling an inactive exception infinite loop. The cross-section values for the single event functional interrupt and the single event latch-up are estimated.

Толық мәтін

Рұқсат жабық

Авторлар туралы

A. Pilipenko

Fеdеrаl State Unitary Enterprise “Russian Federal Nuclear Center – Zababakhin All-Russia Research Institute of Technical Physics”

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: A.S.Pilipenko@vniitf.ru
Ресей, Snezhinsk, Chelyabinsk oblast, 456770

M. Tikhonov

Fеdеrаl State Unitary Enterprise “Russian Federal Nuclear Center – Zababakhin All-Russia Research Institute of Technical Physics”

Email: A.S.Pilipenko@vniitf.ru
Ресей, Snezhinsk, Chelyabinsk oblast, 456770

Әдебиет тізімі

  1. Peña-Fernandez M., Lindoso A., Entrena L., Garcia-Valderas M. // IEEE Trans. 2020. V. NS-67. № 1. P. 126.
  2. Пилипенко А. С. // РЭ. 2022. Т. 67. № 5. С. 514.
  3. РД 134-0175-2009. Аппаратура радиоэлектронная бортовая космических аппаратов. Методы испытаний цифровых сверхбольших интегральных микросхем на стойкость к воздействию отдельных высокоэнергетических протонов и тяжелых заряженных частиц космического пространства на ускорителях заряженных частиц. Нормативный документ по стандартизации РКТ. М.:“ЦНИИ Машиностроения”, 2009. №19720. 29 с.
  4. ARM DDI 0403D “ARMv7-M Architecture Reference Manual” / Cambridge: ARM Limited, 2010. 1020 р.
  5. Пилипенко А. С., Тихонов М. И. // Тр. 25-й Всерос. научн.-техн. конф. “Стойкость-2022”. Лыткарино. 7–8 июня 2022. М.: НИИП, 2022. С. 52.
  6. Протопопов Г. А., Казанцев Д. А. // Тр. 25-й Всерос. научн.-техн. конф. “Стойкость-2022”. Лыткарино. 7–8 июня 2022. М.: НИИП, 2022. С. 125.
  7. Irom F., Miyahira T. F. // Radiation Effects Data Workshop. 2005. P. 36.
  8. Irom F., Miyahira T. F. // IEEE Trans. 2005. V. NS-52. № 6. P. 2475.
  9. Weulersse C., Guibbaud N., Beltrando A.-L. et al.// IEEE Trans. 2017. V. NS-64. № 8. P. 2268.

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Russian Academy of Sciences, 2024