Enviar artigo por via de e-mail Application of tracing tools for analysis of microcontroller failures arising under the 14 MeV neutrons exposure
- Autores: Pilipenko A.S.1, Tikhonov M.I.1
-
Afiliações:
- Fеdеrаl State Unitary Enterprise “Russian Federal Nuclear Center – Zababakhin All-Russia Research Institute of Technical Physics”
- Edição: Volume 69, Nº 2 (2024)
- Páginas: 199-204
- Seção: ФИЗИЧЕСКИЕ ПРОЦЕССЫ В ЭЛЕКТРОННЫХ ПРИБОРАХ
- URL: https://kazanmedjournal.ru/0033-8494/article/view/650715
- DOI: https://doi.org/10.31857/S0033849424020117
- EDN: https://elibrary.ru/KMELDA
- ID: 650715
Citar
Acesso aberto
Acesso está concedido
Resumo
The trace support tools capabilities for a microcontroller (МС) with a Cortex-M3 core are analyzed to investigation of failures arising under the 14 MeV neutrons exposure. It has been shown that in most cases, MC hang is caused by the microcontroller going into a handling an inactive exception infinite loop. The cross-section values for the single event functional interrupt and the single event latch-up are estimated.
Palavras-chave
Texto integral
Sobre autores
A. Pilipenko
Fеdеrаl State Unitary Enterprise “Russian Federal Nuclear Center – Zababakhin All-Russia Research Institute of Technical Physics”
Autor responsável pela correspondência
Email: A.S.Pilipenko@vniitf.ru
Rússia, Snezhinsk, Chelyabinsk oblast, 456770
M. Tikhonov
Fеdеrаl State Unitary Enterprise “Russian Federal Nuclear Center – Zababakhin All-Russia Research Institute of Technical Physics”
Email: A.S.Pilipenko@vniitf.ru
Rússia, Snezhinsk, Chelyabinsk oblast, 456770
Bibliografia
- Peña-Fernandez M., Lindoso A., Entrena L., Garcia-Valderas M. // IEEE Trans. 2020. V. NS-67. № 1. P. 126.
- Пилипенко А. С. // РЭ. 2022. Т. 67. № 5. С. 514.
- РД 134-0175-2009. Аппаратура радиоэлектронная бортовая космических аппаратов. Методы испытаний цифровых сверхбольших интегральных микросхем на стойкость к воздействию отдельных высокоэнергетических протонов и тяжелых заряженных частиц космического пространства на ускорителях заряженных частиц. Нормативный документ по стандартизации РКТ. М.:“ЦНИИ Машиностроения”, 2009. №19720. 29 с.
- ARM DDI 0403D “ARMv7-M Architecture Reference Manual” / Cambridge: ARM Limited, 2010. 1020 р.
- Пилипенко А. С., Тихонов М. И. // Тр. 25-й Всерос. научн.-техн. конф. “Стойкость-2022”. Лыткарино. 7–8 июня 2022. М.: НИИП, 2022. С. 52.
- Протопопов Г. А., Казанцев Д. А. // Тр. 25-й Всерос. научн.-техн. конф. “Стойкость-2022”. Лыткарино. 7–8 июня 2022. М.: НИИП, 2022. С. 125.
- Irom F., Miyahira T. F. // Radiation Effects Data Workshop. 2005. P. 36.
- Irom F., Miyahira T. F. // IEEE Trans. 2005. V. NS-52. № 6. P. 2475.
- Weulersse C., Guibbaud N., Beltrando A.-L. et al.// IEEE Trans. 2017. V. NS-64. № 8. P. 2268.
Arquivos suplementares
