Применение флуоресцентного экрана CHROMOX для диагностики импульсного электронного пучка низкой энергии

Мұқаба

Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Рұқсат ақылы немесе тек жазылушылар үшін

Аннотация

Сообщается о результатах применения флуоресцентного экрана из алюмооксидной керамики Chromox для измерения распределения плотности тока в поперечном сечении интенсивного импульсного электронного пучка низкой энергии. Были исследованы свойства экрана с напылением золота разной толщины: 30 и 300 нм. Покрытие толщиной 30 нм обладает хорошей проводимостью и при этом достаточной прозрачностью (около 5%) для излучения флуоресценции, что позволяет визуализировать двумерную картину распределения тока пучка с хорошим пространственным разрешением. Однако такое покрытие демонстрирует ограниченную устойчивость к воздействию пучка с током не менее 1.5 А (более 0.6 А/см2), энергией 15 кэВ, длительностью 1 мс. Покрытие толщиной 300 нм обладает значительно большей устойчивостью, но не прозрачно для излучения флуоресценции, поэтому изображение регистрировалось на просвет пластины сцинтиллятора. Такой подход позволяет получить изображение отпечатка пучка, однако с несколько худшим пространственным разрешением.

Толық мәтін

Рұқсат жабық

Авторлар туралы

В. Куркучеков

Институт ядерной физики им. Г.И. Будкера Сибирского отделения Российской академии наук

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: V.V.Kurkuchekov@inp.nsk.su
Ресей, 630090, Новосибирск, просп. Академика Лаврентьева, 11

И. Кандауров

Институт ядерной физики им. Г.И. Будкера Сибирского отделения Российской академии наук

Email: V.V.Kurkuchekov@inp.nsk.su
Ресей, 630090, Новосибирск, просп. Академика Лаврентьева, 11

Н. Абед

Институт ядерной физики им. Г.И. Будкера Сибирского отделения Российской академии наук

Email: V.V.Kurkuchekov@inp.nsk.su
Ресей, 630090, Новосибирск, просп. Академика Лаврентьева, 11

Д. Никифоров

Институт ядерной физики им. Г.И. Будкера Сибирского отделения Российской академии наук

Email: V.V.Kurkuchekov@inp.nsk.su
Ресей, 630090, Новосибирск, просп. Академика Лаврентьева, 11

Д. Таныгина

Институт ядерной физики им. Г.И. Будкера Сибирского отделения Российской академии наук

Email: V.V.Kurkuchekov@inp.nsk.su
Ресей, 630090, Новосибирск, просп. Академика Лаврентьева, 11

Әдебиет тізімі

  1. Loewenhoff T., HiraiT., Keusemann S. et al. // J. Nucl. Mater. 2011. V. 415. № 1. Р. S51. http://doi.org/10.1016/j.jnucmat.2010.08.065
  2. Vyacheslavov L., Arakcheev A., Burdakov A. et al. // AIP Conf. Proc. 2016. V. 1771. № 1. 060004. https://doi.org/10.1063/1.4964212
  3. Куркучеков В.В., Абед Н., Иванов А.В., Кандауров И.В., Никифоров Д.А. // ВАНТ. Сер. Термоядерный синтез. 2024. Т. 47. № 2. С. 73.
  4. Schuch R.L., Kelly J.G. // Rev. Sci. Instrum. 1972. V. 43. № 8. P. 1097. https://doi.org/10.1063/1.1685854
  5. Forck P. arXiv preprint arXiv:2009.10411. 2020. https://doi.org/10.48550/arXiv.2009.10411
  6. Kurkuchekov V., Kandaurov I., Trunev Y. // J. Instrum. 2018. V. 13. № 5. P05003. http://doi.org/10.1088/1748-0221/13/05/P05003
  7. Silva T.F., Bonini A.L., Lima R.R. et al. // Rev. Sci. Instrum. 2012. V. 83. № 9. https://doi.org/10.1063/1.4748519
  8. Астрелин В.Т., Бурдаков А.В., Заболотский А.Ю. и др. // ПТЭ. 2004. № 2. С. 66. https://doi.org/10.1023/B:INET.0000025201.89969.ae
  9. Ischebeck R., Prat E., Thominet V., Loch C.O. // Phys. Rev. ST Accel. Beams. 2015. V. 18. № 8. 082802. http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevSTAB.18.082802
  10. McCarthy K.J., Baciero A., Zurro B. et al. // J. Appl. Phys. 2002. V. 92. № 11. P. 6541. https://doi.org/10.1063/1.1518133
  11. Bal C., Bravin E., Lefèvre T. et al. // Proceedings of DIPAC 2005. Lyon, France. 2005. P. 57. № CERN-AB-2005-067.
  12. Forck P., Andre C., Becker F. et al. // Proceedings of DIPAC2011, Hamburg, Germany, MOPD53. P. 170.
  13. Good J., Kube G., Leuschner N. et al. // J. Phys. Conf. Ser. 2013. V. 425. № 12. 122012. http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/425/12/122012
  14. Lumpkin A.H., Yang B.X., Berg W.J. et al. // Nucl. Instrum. Methods. Phys. Res. A. 1999. V. 429. № 1–3. P. 336. https://doi.org/10.1016/S0168-9002(99)00075-3
  15. Описание камеры. http://www.sptt.ru/sptt/catalog.php?l
  16. Berg W., Ko K. // AIP Conf. Proc. 1992. V. 281. № 1. P. 279. https://doi.org/10.1063/1.44348
  17. Антонец И.В., Котов Л.Н., Некипелов С.В., Карпушов Е.Н. // ЖТФ. 2004. Т. 74. № 11. С. 102.
  18. Axelevitch A., Gorenstein B., Golan G. // Physics Procedia. 2012. V. 32. P. 1. http://dx.doi.org/10.1016/j.phpro.2012.03.510
  19. Goldstein J., Newbury D., Michael J. et al. Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis. New York: Springer, 2018. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4939-6676-9
  20. Renuka K., Ensinger W., Andre C., Beeker F., Forck P., Haseitl R., Reiter A., Walasek-Hohne B. // BIW2012 Proceedings. Newport, VA, USA. TUPG022. 2012. P. 183.
  21. Berger M.J. ESTAR, PSTAR, and ASTAR: Computer programs for calculating stopping-power and range tables for electrons, protons, and helium ions. NIST. US Department of Commerce. 1992.
  22. Hubbell J.H., Seltzer S.M. X-Ray Mass Attenuation Coefficients. NIST, US Department of Commerce, 1995. https://dx.doi.org/10.18434/T4D01F

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML
Жүктеу
2. Fig. 1. a – Schematic diagram of registration of electron beam current distribution using Chromox fluorescent ceramics. b – Vacuum slide with fixed fluorescent screen.

Жүктеу (126KB)
Метадеректер
3. Fig. 2. Photographs of the Chromox screen glow under the influence of an electron beam at different values ​​of the leading magnetic field.

Жүктеу (180KB)
Метадеректер
4. Fig. 3. Image of a beam imprint on a Chromox screen with a 30 nm thick gold coating.

Жүктеу (89KB)
Метадеректер
5. Fig. 4. Dependence of the integral brightness of beam prints on the number of beam electrons.

Жүктеу (90KB)
Метадеректер
6. Fig. 5. a – Example of a photograph of a discharge occurring on the surface of a fluorescent screen. b – Image of a beam imprint and multiple traces of discharges after several dozen pulses.

Жүктеу (171KB)
Метадеректер
7. Fig. 6. a – External view of the Chromox fluorescent screen with a 300 nm thick gold coating. b – Schematic diagram of the beam current distribution registration for radiation transmitted through the scintillator plate.

Жүктеу (126KB)
Метадеректер
8. Fig. 7. Image of the beam imprint glow on the back of a Chromox fluorescent screen with a 300 nm thick gold coating.

Жүктеу (61KB)
Метадеректер

© Russian Academy of Sciences, 2025