Локализация алюминия в слоях ZnO:Al, полученных методом магнетронного распыления
- Авторы: Асваров А.Ш.1, Муслимов А.Э.1, Каневский В.М.1, Ахмедов А.К.2, Абдуев А.Х.3, Калажоков З.Х.4
-
Учреждения:
- Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова Курчатовского комплекса кристаллографии и фотоники НИЦ “Курчатовский институт”
- Институт физики им. Х.И. Амирханова Дагестанского федерального исследовательского центра РАН
- Государственный университет просвещения
- Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова
- Выпуск: Том 69, № 2 (2024)
- Страницы: 303-313
- Раздел: ПОВЕРХНОСТЬ, ТОНКИЕ ПЛЕНКИ
- URL: https://kazanmedjournal.ru/0023-4761/article/view/673211
- DOI: https://doi.org/10.31857/S0023476124020147
- EDN: https://elibrary.ru/YSGBUY
- ID: 673211
Цитировать
Полный текст


